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品質・信頼性ハンドブック
I. 製品の品質保証

3. 企画、設計段階における品質保証

企画、設計段階では、顧客要求に適合した製品を提供することを目的として製品開発を行います。そのため、顧客要求事項の確認から設計の妥当性確認までを実施します。
市場調査や顧客要求をもとに製品構想が企画されます。企画内容に基づきプロジェクトを構成し、製品開発がスタートします。プロジェクトマネージャーは、設計/技術部門長により任命されます。また、プロジェクト構成メンバーは、製品開発に関係する全部門より代表者が選出され、各メンバーは、各々の役割に基づいた業務を遂行し、製品化を進めます。



3.1 デザインレビュー

デザインレビューとは、開発する製品の目標品質(機能、コスト、市場性、品質、信頼性、外観、梱包、納期など)を客観的に評価、審議することです。
デザインレビューを通して、製品と顧客要求事項との適合性を確認しています。当社では、企画、設計段階において、プロジェクトメンバー参画のもと、企画審査と技術審査のデザインレビューを実施しています。

企画審査は、お客様からの要求品質および目標性能を把握したうえで実施されます。

技術審査は、半導体のチップ設計、回路設計、パッケージ設計、製造プロセス、使用材料の最適化など設計を行った後に、特性および信頼性の評価結果をもとに実施されます。

なお、当社は、環境マネジメントシステムの国際規格である「ISO14001」の認証を取得しており、環境に配慮した設計になっていることについてもデザインレビューにおいて審議しております。



3.2 設計試験

設計試験とは、開発する製品の目標性能を満足しているか検証することを目的としています。
設計試験では、製品の性能だけではなく要素技術の信頼性についても評価します。



3.3 認定試験

認定試験とは,製品の信頼性を検証するための試験で、設定された信頼度の確認を目的としています。
当社の信頼性試験は、EIAJ*1、IEC*2、MIL*3規格などに準拠した試験方法を定めて実施しています。また、光半導体デバイスの試験は、Telcordia*4GR-468規格などに準拠しています。
表-1から表-3に品種ごとの主な試験内容(例)を示します。


表-1 光半導体デバイス認定試験(例)
表-2 マイクロ波半導体デバイス認定試験(例)
表-3 GaAs IC認定試験(例)


*1 EIAJ規格 : 日本電子機会工業会規格

*2 IEC規格 : 国際電気標準会議規格

*3 MIL規格 : 米国国防省軍用規格

*4 Telcordia GR-468規格:Generic Reliability Assurance Requirements for Optoelectronic Devices Used In Telecommunications Equipment



3.4 設計の妥当性確認

技術審査完了後に、設計の妥当性を確認します。
設計の妥当性確認とは、量産開始前に顧客要求事項と製品性能との適切性を確認することです。



3.5 顧客提出サンプル

設計段階において顧客に提出するサンプルには、下記に示すESCSがあります。

(1) ES (Engineering Sample)
ESは当社における試作品で、特性規格を満足しますが、信頼度および品質に関しては保証しないデバイスです。また、デバイスの製造工程(製造方法や検査・試験内容などの詳細)は必ずしも、CSや製品に一致するものではありません。特性・信頼度・品質の保証有無から、ESは顧客における試作評価用のデバイスとして位置付けています。
(2) CS (Commercial Sample)
CSは特性規格を満足し、信頼度および品質に関しても保証するデバイスです。また、特性・信頼度・品質を保証するために計画された工程(検査・試験内容を含む)に従って製造されます。CSは顧客における製品適用に向けたデバイスとして位置付けています。
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