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表-5 マイクロ波半導体デバイス・GaAs IC定期信頼性試験(例)
試験区分
試験項目
LTPD
＊
備考
耐久性試験
連続動作
30%
1,000時間。
耐湿性試験は樹脂封止製品のみ適用
高温保存
30%
耐湿性
30%
環境試験
温度サイクル
30%
熱衝撃
機械衝撃
30%
振動
* LTPD (lot tolerance percent defective) : ロット許容不良率
（抜取検査で合格する確率が、ある特定の小さい値になるような検査ロットの不良率
…JIS Z 8101より）
