品質・信頼性ハンドブック

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表-4 光半導体デバイス定期信頼性試験(例)

試験区分	試験項目	LTPD^＊	備考
耐久性試験	連続動作	20%	2,000時間以上実施
	高温保存	20%
	耐湿性動作	20%
環境試験	温度サイクル	20%	500サイクル以上実施
	熱衝撃	20%	10サイクル以上実施
	機械衝撃	20%
	振動	20%

* LTPD (lot tolerance percent defective) : ロット許容不良率: （抜取検査で合格する確率が、ある特定の小さい値になるような検査ロットの不良率
…JIS Z 8101より）

　

　

　